直流電阻測(cè)試儀如何檢測(cè)電線電纜?
2016-07-26
直流電阻測(cè)試儀如何檢測(cè)電線電纜?
直流電阻測(cè)試儀可有效校正攝像機(jī)在跟蹤運(yùn)動(dòng)目標(biāo)過(guò)程中由于抖動(dòng)而產(chǎn)生的誤差，這里主要利用ADISl635 MLZ攝像穩(wěn)定方面的重要作用。直流電阻測(cè)試儀并能較好解決在跟蹤過(guò)程中運(yùn)動(dòng)目標(biāo)在攝像機(jī)視場(chǎng)中丟失的問(wèn)題，與傳統(tǒng)的根據(jù)已建立的數(shù)學(xué)模型來(lái)處置目標(biāo)丟失現(xiàn)象相比，直流電阻測(cè)試儀準(zhǔn)確度較高。數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)就像控制系統(tǒng)的眼睛”和“耳朵”一樣，現(xiàn)代控制系統(tǒng)中。成為控制系統(tǒng)*的重要局部。各種控制系統(tǒng)獲取信息的一種重要途徑。由于數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的精度和實(shí)時(shí)性對(duì)于整個(gè)控制系統(tǒng)的性能至關(guān)重要，所以必需合理設(shè)計(jì)使其能提供預(yù)期的采樣速度、電線電纜的檢測(cè)要求-直流電阻測(cè)試儀達(dá)到一定的轉(zhuǎn)換精度，直流電阻測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)介紹并應(yīng)該做到電路簡(jiǎn)單、抗干擾性能強(qiáng)。本采集系統(tǒng)采用ADI公司生產(chǎn)的12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器AD7862一款高速、低功耗、雙核12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器。能夠滿足系統(tǒng)對(duì)采樣精度和采樣速度的要求?？刂破骷捎胐sPIC30F6010A 數(shù)字信號(hào)控制芯片，Microchip公司生產(chǎn)的高性能16位數(shù)字信號(hào)控制器，內(nèi)核包括一個(gè)DSP引擎，從而能夠顯著增強(qiáng)系統(tǒng)的運(yùn)算和吞吐能力。
直流電阻測(cè)試儀不只對(duì)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的精度和實(shí)時(shí)性提出要求， 某些數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中。直流電阻測(cè)試儀而且要求其具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能，為了實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)功能，本系
統(tǒng)使用SD卡。SD卡(SeeureDigitalMemoryCard為平安數(shù)碼卡，信號(hào)前端處置器接收上位機(jī)來(lái)的控制命令和視頻圖像數(shù)據(jù)輸入，然后將這兩種數(shù)據(jù)信號(hào)通過(guò)FPGA 進(jìn)行數(shù)據(jù)重組排列，再通過(guò)光纖發(fā)送給信號(hào)分配器;同樣接收光纖反饋回的數(shù)據(jù)信號(hào)，并通過(guò)FPGA 完成對(duì)數(shù)據(jù)的解析并通過(guò)MCU轉(zhuǎn)發(fā)給上位機(jī)處理。以下將介紹幾種測(cè)量方法：
萬(wàn)用表的R10K檔測(cè)量
二極管正向電阻阻值為幾十至200kΩ,利用具有×10kΩ擋的指針式萬(wàn)用表可以大致判斷發(fā)光二極管的好壞。正常時(shí)。反向電阻的值為∝。如果正向電阻值為0或?yàn)?infin;，反向電阻值很小或?yàn)?則易損壞。這種檢測(cè)方法，不能實(shí)地看到發(fā)光管的發(fā)光情況，因?yàn)?times;10kΩ擋不能向LED提供較大正向電流。
用兩塊萬(wàn)用表配合測(cè)量
直流電阻測(cè)試儀接通后就能正常發(fā)光。介質(zhì)損耗測(cè)試若亮度很低，如果微水有兩塊指針萬(wàn)用表(微水儀好同型號(hào))可以較好地檢查發(fā)光二極管的發(fā)光情況。微水用一根導(dǎo)線將其中一塊萬(wàn)用表的+接線柱與另一塊表的-接線柱連接。余下的-筆接被測(cè)發(fā)光管的正極(P區(qū))余下的+蜿蜒流電阻測(cè)試儀接被測(cè)發(fā)光管的負(fù)極(N區(qū))兩塊萬(wàn)用表均置×10Ω擋。正常情況下。甚至不發(fā)光，可將兩塊萬(wàn)用表均撥至×1Ω若，若仍很暗，甚至不發(fā)光，介質(zhì)損耗測(cè)則說(shuō)明該發(fā)光二極管性能不良或損壞。應(yīng)注意，介質(zhì)損耗測(cè)試儀不能一開(kāi)始丈量就將兩塊萬(wàn)用表置于×1Ω，以免電流過(guò)大，損壞發(fā)光二極管。
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